Atomic Force Microscopy as a Valuable Tool in an Innovative Multi-scale and Multi-technique Non-invasive Approach to Surface Cleaning Monitoring

Catarina Cortes Pereira, I.M.P.L.V.O. Ferreira, L.C. Branco, I.C.A. Sandu, T. Busani

Resultado de pesquisarevisão de pares

Idioma originalUndefined/Unknown
RevistaProcedia Chemistry
DOIs
Estado da publicaçãoPublicado - 2013

Citação